原子吸收光谱仪 ZA4000系列
原子吸收光谱仪 ZA4000系列

原子吸收光谱仪 ZA4000系列

型号:ZA4000

品牌:日立HITACHI

名称:原子吸收光谱仪

价格:详询

ZA4000系列原子吸收分光光度计,新增快速连续模式(支持火焰法),实现了更高的分析效率,可以在研究和品质管理等众多领域实现快速、高精度、高重现性。
产品描述

特点

通过快速连续测定实现高精度、高效检测

最多可对12种元素进行连续测定,实现高效率检测

ZA4000系列搭载日立特别研发的偏振塞曼校正法和双检测器,提供稳定的高精度分析。
其中新成员快速序列式火焰机ZA4800使用全新研发的衍射光栅驱动,实现多元素快速连续测试,检测效率提升30%,打破了AAS测定速度不如ICP的技术难点。

原子吸收光谱仪 ZA4000系列

偏振塞曼背景校正

全波长范围的高精度背景校正,适用于任何元素,可以校正钠和钾等D2灯校正法无法校正的元素。

偏振塞曼背景校正

开机即可测,基线更稳定。

原子吸收光谱仪 ZA4000系列

双检测器实时背景校正

采用单独的检测器同时捕捉样品光束与参照光束的信号,可以降低基线噪音。
两种光束的检测时间是同步的,从而提升了校正精度。

双检测器实时背景校正

火焰法:自动启动、语音导航

偏振塞曼校正法可有效抑制漂移,在吸入空白溶液时吸光度会恢复到零左右。因此,系统会判断进样、测定开始与结束的时间,并自动执行测定。通过语音提示通知何时需要更换样品。即使是初次使用原子吸收分光光度计的客户也可以放心操作。

火焰法

石墨炉法

超痕量分析诊断系统

使用石墨炉法进行超痕量分析时,石墨管或样品进样系统受到污染会导致分析数据不准确。通过“石墨管污染确认”功能,初学者也能轻松进行分析,并及时发现仪器污染,节省预检时间。

石墨炉法

突沸自动检测功能

可提高检测结果的准确性。自动检测到暴沸,会在测定结果的数值后面标记“P”。据此,可以确认是否发生暴沸,并及时修正升温程序。

突沸自动检测功能

可避免误放的样品盘

根据设定的自动进样器条件,样品盘的显示屏会根据样品以不同颜色显示标准溶液、基体改性剂等。通过样品盘的区分,可以降低放错样品的风险。

可避免误放的样品盘

样品表加载功能

软件能从Excel提取“样品名称”、“重量”和“溶剂体积”等信息,只需点击“加载样品表”即可。适合需要单独管理表格数据的用户。

样品表加载功能


分析实例

火焰法分析镀镍液中的铜

Cu的吸收波长和Ni的吸收波长很接近,即使是在分析含有大量Ni的电镀液中的微量Cu,偏振塞曼校正法也能够进行高精度测定。

火焰法分析镀镍液中的铜

确认灰化时待测元素的挥发

ZA4700是一款石墨炉专用机,可以在测定过程对样品的干燥、灰化、原子化、清除和冷却等所有过程进行背景校正。它为创建复杂基体样品的测定条件提供了重要信息。
使用永磁铁的偏振塞曼校正法可以进行干燥、灰化阶段的背景监测。
在镁的测定中,当灰化温度升高,可以看到镁在灰化过程中挥发(左图)。
当灰化温度降低,挥发信号消失,可以获得重现性良好的信号 (右图) 。

确认灰化时待测元素的挥发

6种元素连续测定

下图表示使用ZA4800连续测定6种元素的示例。复合灯并用,同时点亮6种元素灯,切换每个样品的波长进行测定。利用偏振塞曼特有的基线稳定性和连续测定,可以大幅提升分析效率。此外,还可以降低样品的更换频率,从而减轻操作人员的负担。

6种元素连续测定

6种元素连续测定


系统阵容

型号ZA4000ZA4800ZA4300ZA4700
分析法火焰法&石墨炉法火焰法(快速连续)火焰法石墨炉法
测定模式火焰&石墨炉火焰火焰石墨炉
光路实时双光束
背景校正法火焰/石墨炉一体机:偏振塞曼校正法塞曼背景校正法
安装的灯数量8盏(塔轮方式)
同时点亮2盏
8盏(塔轮方式)
同时点亮4盏
8盏(塔轮方式)
同时点亮2盏
8盏(塔轮方式)
同时点亮2盏


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