原子吸收光谱仪 ZA4000系列
型号:ZA4000
品牌:日立HITACHI
名称:原子吸收光谱仪
价格:详询
特点
通过快速连续测定实现高精度、高效检测
最多可对12种元素进行连续测定,实现高效率检测
ZA4000系列搭载日立特别研发的偏振塞曼校正法和双检测器,提供稳定的高精度分析。
其中新成员快速序列式火焰机ZA4800使用全新研发的衍射光栅驱动,实现多元素快速连续测试,检测效率提升30%,打破了AAS测定速度不如ICP的技术难点。

偏振塞曼背景校正
全波长范围的高精度背景校正,适用于任何元素,可以校正钠和钾等D2灯校正法无法校正的元素。

开机即可测,基线更稳定。

双检测器实时背景校正
采用单独的检测器同时捕捉样品光束与参照光束的信号,可以降低基线噪音。
两种光束的检测时间是同步的,从而提升了校正精度。

火焰法:自动启动、语音导航
偏振塞曼校正法可有效抑制漂移,在吸入空白溶液时吸光度会恢复到零左右。因此,系统会判断进样、测定开始与结束的时间,并自动执行测定。通过语音提示通知何时需要更换样品。即使是初次使用原子吸收分光光度计的客户也可以放心操作。

石墨炉法
超痕量分析诊断系统
使用石墨炉法进行超痕量分析时,石墨管或样品进样系统受到污染会导致分析数据不准确。通过“石墨管污染确认”功能,初学者也能轻松进行分析,并及时发现仪器污染,节省预检时间。

突沸自动检测功能
可提高检测结果的准确性。自动检测到暴沸,会在测定结果的数值后面标记“P”。据此,可以确认是否发生暴沸,并及时修正升温程序。

可避免误放的样品盘
根据设定的自动进样器条件,样品盘的显示屏会根据样品以不同颜色显示标准溶液、基体改性剂等。通过样品盘的区分,可以降低放错样品的风险。

样品表加载功能
软件能从Excel提取“样品名称”、“重量”和“溶剂体积”等信息,只需点击“加载样品表”即可。适合需要单独管理表格数据的用户。

分析实例
火焰法分析镀镍液中的铜
Cu的吸收波长和Ni的吸收波长很接近,即使是在分析含有大量Ni的电镀液中的微量Cu,偏振塞曼校正法也能够进行高精度测定。

确认灰化时待测元素的挥发
ZA4700是一款石墨炉专用机,可以在测定过程对样品的干燥、灰化、原子化、清除和冷却等所有过程进行背景校正。它为创建复杂基体样品的测定条件提供了重要信息。
使用永磁铁的偏振塞曼校正法可以进行干燥、灰化阶段的背景监测。
在镁的测定中,当灰化温度升高,可以看到镁在灰化过程中挥发(左图)。
当灰化温度降低,挥发信号消失,可以获得重现性良好的信号 (右图) 。

6种元素连续测定
下图表示使用ZA4800连续测定6种元素的示例。复合灯并用,同时点亮6种元素灯,切换每个样品的波长进行测定。利用偏振塞曼特有的基线稳定性和连续测定,可以大幅提升分析效率。此外,还可以降低样品的更换频率,从而减轻操作人员的负担。


系统阵容
| 型号 | ZA4000 | ZA4800 | ZA4300 | ZA4700 |
|---|---|---|---|---|
| 分析法 | 火焰法&石墨炉法 | 火焰法(快速连续) | 火焰法 | 石墨炉法 |
| 测定模式 | 火焰&石墨炉 | 火焰 | 火焰 | 石墨炉 |
| 光路 | 实时双光束 | |||
| 背景校正法 | 火焰/石墨炉一体机:偏振塞曼校正法 | 塞曼背景校正法 | ||
| 安装的灯数量 | 8盏(塔轮方式) 同时点亮2盏 | 8盏(塔轮方式) 同时点亮4盏 | 8盏(塔轮方式) 同时点亮2盏 | 8盏(塔轮方式) 同时点亮2盏 |


